運(yùn)行狀態(tài)的影響與對(duì)策

　　電氣設(shè)備故障無(wú)論是電流效應(yīng)引起的發(fā)熱故障 ( 導(dǎo)電回路故障 )，發(fā)熱功率與負(fù)荷電流值的平方成正比。電壓效應(yīng)引起的發(fā)熱故障 ( 絕緣介質(zhì)故障 )，發(fā)熱功率與運(yùn)行電壓的平方成正比。因此，設(shè)備的工作電壓和負(fù)荷電流的大小，將直接影響到紅外檢測(cè)與故障診斷的效果。泄漏電流的增大，能造成高壓設(shè)備部分電壓不均勻。如果沒有加載運(yùn)行或者負(fù)荷很低，則會(huì)使設(shè)備故障發(fā)熱不明顯，即使存在較嚴(yán)重的故障，也不可能因特征性熱異常的形式暴露出來(lái)。只有當(dāng)設(shè)備在額定電壓下運(yùn)行，而且負(fù)荷越大時(shí)，發(fā)熱及溫升才越嚴(yán)重，故障點(diǎn)的特征性熱異常也暴露得越明顯。因此在進(jìn)行紅外檢測(cè)時(shí)，為了能夠取得可靠的檢測(cè)效果，要盡量保證設(shè)備在額定電壓和滿負(fù)荷下運(yùn)行，即使不能做到連續(xù)滿負(fù)荷運(yùn)行，也應(yīng)編制一個(gè)運(yùn)行方案，以便在檢測(cè)前和檢測(cè)過(guò)程中，能讓設(shè)備滿負(fù)荷運(yùn)行一段時(shí)間( 如 4 ～ 6h) ，使設(shè)備故障部位有足夠的發(fā)熱時(shí)間，并保證其表面達(dá)到穩(wěn)定溫升。
　　由于電氣設(shè)備故障紅外診斷時(shí)，故障判斷標(biāo)準(zhǔn)往往是以設(shè)備在額定電流時(shí)的溫升為依據(jù)，因此當(dāng)檢測(cè)時(shí)實(shí)際運(yùn)行電流小于額定電流時(shí)，應(yīng)該是現(xiàn)場(chǎng)實(shí)際測(cè)量的設(shè)備故障點(diǎn)溫升換算為額定電流的溫升。