BHGE檢測科技X-Ray檢測

BHGE檢測科技X-Ray檢測在電子行業(yè)失效分析的研討會
三月的北京，春暖花開。迎著兩會藍，由BHGE檢測科技、北京朗時云帆科技有限公司、IPC聯(lián)合舉辦的“X-Ray檢測在電子行業(yè)失效分析的研討會”于2019年3月6日在GE北京技術(shù)園區(qū)成功召開。

會議由BHGE檢測科技X射線系統(tǒng)銷售經(jīng)理張大磊主持。BHGE檢測科技X射線系統(tǒng)大中華區(qū)銷售總監(jiān)孔凡琴博士首先為大會致開幕詞，并分享了BHGE檢測科技“在中國為中國”的發(fā)展戰(zhàn)略，以及檢測科技在中國的相關(guān)業(yè)務(wù)和即將開業(yè)的的兩家全新的客戶應用中心。BHGE在中國的持續(xù)投資，將更好地為中國客戶提供更先進的產(chǎn)品和技術(shù)及更上等的服務(wù)和客戶體驗。

本次會議邀請了京津冀經(jīng)濟圈六十余家單位參加，涵蓋大學、科研院所及電子制造企業(yè)。會議由BHGE檢測科技**應用專家李珉就X-Ray檢測在表面貼裝、IC封裝以及微納米工業(yè)CT在電子行業(yè)失效分析中的應用案例，與參會的專家、學者、從業(yè)人員進行分享、探討。同時，會議邀請了IPC主任講師史俊杰就電子行業(yè)特別是BGA相關(guān)工藝標準做了精彩的講解和分享。

本次研討會為京津冀電子行業(yè)相關(guān)單位提供了一次相互交流學習的機會，大家都認識到失效分析中X-Ray檢測的重要性。通過面對面的溝通探討，增進了彼此間的問題和解決方法的了解，為促進交流合作奠定了良好的基礎(chǔ)。